Zlecenie 7148423 - Szacowanie wartości zamówienia w postaci na wynajmu...

Cel zamówienia Celem zamówienia jest oszacowanie wartości zamówienia w postaci wynajmu aparatury badawczej do badań i wytwarzania tranzystorów GaN i charakteryzacji w ramach projektu opracowania uniwersalnych, wysokosprawnych falowników o zwiększonej gęstości mocy z tranzystorami GaN. Zamawiający informuje, że realizacja zamówienia uwarunkowana jest otrzymaniem przez Zamawiającego dofinansowania z Programu Operacyjnego Inteligentny Rozwój 2014-2020 współfinansowanego ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego. Przedmiot zamówienia Spółka DI4MAN uprzejmie zaprasza do przedstawienia szacunkowej wartości zamówienia w postaci na wynajmu aparatury badawczej do badań i wytwarzania tranzystorów GaN i charakteryzacji. Zamawiający przewiduje 36-miesięczny okres odpłatnego korzystania (wynajmu) w przewidywanym terminie od 01.06.2020 przy średnim wykorzystaniu w wymiarze 3h/doba. Minimalne parametry przedmiotu zamówienia:
1. Urządzenie do litografii laserowej DWL 66FS firmy Heidelberg Instruments - wytwarzanie masek do procesów fotolitografii
2. Urządzenie do nanostemplowania Eitre 3 firmy Obducat
3. Urządzenie MJB3 firmy Suss MicroTec Litography
4. Naświetlarka Suss MicroTec MA6/BA6
5. Wirówki z płytami grzejnymi do obróbki emulsji fotolitograficznych
6. Urządzenie do usuwania emulsji w plazmie tlenowej
7. Urządzenie do mycia masek fotolitograficznych
8. Magnetron Gamma 1000C firmy Surrey-Nano Systems
9. Reaktor do osadzania PECVD PlasmaLab80Plus firmy Oxford Instruments
10. Magnetron Leybold-Heraeus Z-400
11. Magnetron Leybold-heraeus L-560
12. Urządzenie do osadzania warstw techniką ALD TFS-200-190 firmy BENEQ
13. Dwa urządzenia do osadzania warstw techniką ALD firmy SVMA
14. Dwukomorowe urządzenie do trawienia plazmowego PlasmaLab System 100 ICP180 firmy Oxford Instruments
15. Piec do wygrzewania impulsowego SHS 100 Mattson Thermal Products
16. Piec RTA firmy AST
17. Urządzenie do elektronolitografii Raith nanofabrication VOYAGER
18. Dyfraktometr rentgenowski X'Pert PRO
19. Urządzenie do osadzania warstw metodą parowania wiązką elektronową oraz metodą magnetronową VST TFDS-462U
20. Profilometry stykowe Veeco
21. Akcelerator 3SDH-2 Pelletron
22. Urządzenie do pomiarów elektrycznych w temperaturach kriogenicznych do 10 K
23. Ostrzowe stanowisko do pomiaru struktur półprzewodnikowych
24. Stanowisko do pomiarów wysokonapięciowych
25. Urządzenie do pomiaru napięcia przebicia struktur półprzewodnikowych Keithley 2657A
26. Pikoamperomierz ze źródłem napięciowym KEYSIGHT B2985A
27. System do pomiarów elektrycznych struktur półprzewodnikowych Keithley SCS4200
28. Ostrzowe stanowisko do pomiaru struktur półprzewodnikowych w podwyższonych temperaturach
29. Skaningowy mikroskop elektronowy Philips XL-30
30. System zogniskowanej wiązki jonów do mikro- i nanoprocessingu oraz skaningowej mikroskopii jonowej HELIOS Nanolab 6
31. Wysokorozdzielczy transmisyjny mikroskop elektronowy JOEL JEM-2100.
32. Urządzenie do czyszczenia plazmowego FISCHIONE INSTRUMENTS M1020
33. Pocieniarka próbek FISCHIONE INSTRUMENTS M1050
34. Piła wolframowa do przygotowywania preparatów mikroskopowych
35. Stanowisko do polerowania preparatów mikroskopowych DIMPLER
36. Urządzenie do trawienia plazmowego RIE-ICP